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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorGarcía Águila, Sixto, Director-
dc.contributor.authorMonge Valverde, Ana Beatriz-
dc.creatorESPOL. FIEC-
dc.date.accessioned2024-01-26T16:01:04Z-
dc.date.available2024-01-26T16:01:04Z-
dc.date.issued1989-
dc.identifier.citationMonge Valverde, A. B. (1989). Instalación mantenimiento y funcionamiento del sistema de prueba Fluke 3050b para detectar fallas en tarjetas electrónicas. [Tesis.]. ESPOL. FIEC: Electrónica, Guayaquil. 125p.-
dc.identifier.urihttp://www.dspace.espol.edu.ec/handle/123456789/59849-
dc.descriptionInstalación mantenimiento y funcionamiento de un sistema de pruebas FLUKE 3050 B para la detección de fallas en tarjetas electrónicas y haciendo uso y aplicación de lo avanzado electrónica - programas de computadora en estos aparatos electrónicos de prueba se pone de manifiesto las ventajas de este equipo.-
dc.formatapplication/pdf-
dc.format.extent125 Páginas-
dc.language.isospa-
dc.publisherESPOL. FIEC-
dc.rightsopenAccess-
dc.subjectCircuitos integrados-
dc.subjectTarjetas electrónicas-
dc.titleInstalación mantenimiento y funcionamiento del sistema de prueba Fluke 3050b para detectar fallas en tarjetas electrónicas-
dc.typeIngeniero en Electricidad: Electrónica-
dc.identifier.codigoespolT-9694-
dc.description.cityGuayaquil-
dc.description.degreeEscuela Superior Politécnica del Litoral-
dc.identifier.codigoproyectointegradorESC1115-
Aparece en las colecciones: Tesis en Ingeniería Eléctrica

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