La toma de decisiones en el sector agrícola se basa en información precisa que se obtiene mediante el muestreo de variables claves, como el índice de área foliar (IAF). Existen múltiples alternativas de muestreo, pero cuando se requiere una alta precisión en los datos, los métodos destructivos son los más recomendados. Es crucial buscar opciones eficientes que minimicen el riesgo, consumo de tiempo y costos adicionales que conllevan estos métodos. El estudio se realizó en la granja experimental de la ESPOL, con un cultivo de maíz dividido en 48 unidades experimentales con variaciones de híbridos, de dosis de nitrógeno, y cuatro repeticiones, efectuando un muestreo destructivo para determinar el IAF, y fotografías aéreas con cámara multiespectral para la obtención de índices de vegetación, en las etapas V12, VT, y R3, datos con los que se construyeron dos ecuaciones que estiman el IAF a través de índices de vegetación (ExG y MGRVI) para la etapa V12, con r = 0.3 y r = 0.31, respectivamente. Se desarrolló a su vez el diseño de un prototipo de escáner para realizar estudios de IAF en cultivos de maíz en campo y de forma no destructiva. Su implementación se rigió bajo los estándares del proceso de diseño mecatrónico, en donde, se llegó a un diseño final del escáner, cuyo funcionamiento obedeció a un sistema embebido con dos componentes principales: un módulo microcontrolador (RaspberryPi 4B) y un módulo escáner. Se compararon los resultados del IAF obtenidos con el escáner y por las ecuaciones matemáticas.